Hallo
Ich vermesse dünne organische Filme mit Röntgen Reflektivität. Die Messung an sich funktioniert einwandfrei, nur die genaue Bestimmung des Winkels der "external total reflection" macht mir probleme. Bei glatten Flächen und stark streuenden Materialien, wie z.B. Gold, ist es leicht da der Übergang sehr klar zu sehen ist. Bei den meisten Experimenten ist dies aber nicht der Fall. Deshalb suche ich nach einer exakten Methode wie man den Winkel bestimmen kann!? Ist es möglich durch Ableitungen, Normierungen, ..., diesen zu bestimmen?
Kann mir jemand eine frei zugängliche Software empfehlen um XRR-spectren zu simulieren und mit den gemessen zu vergleichen?
lg Oliver