Spektral Messverfahren zur dyne Kontrolle

Spektral Messverfahren zur opto dynamischen Surface Tension dyne Oberfl=E4chenspannung Oberfl=E4chenenergiemessung - ODSTM-1 - f=FCr bewegte Kunststofffolienbahnen, Filme, Plastiksubstrate wie BOPP, LDPE, HDPE, PP, PE, PET, EVA, PTFE, Laminate, usw.

Fr=FChre Patentanmeldung DE 19543289 A1 - Patent Klassifikation G01L1 /

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Immer noch gibt es weltweit kein ber=FChrungslos, real time, optisches online Oberfl=E4chenspannungs- oder Oberfl=E4chen Energieme=DFsystem - dyne

- f=FCr laufende Warenbahnen.

Aufgrund der stetig steigenden Herstellung und Anwendung von Oberfl=E4chen vorbehandelten oder auch unbehandelten Kunststofffolien-, Laminaten und beschichteten Papierbahnen ist hier ein unvorstellbares Marktpotential hinsichtlich der online Prozessmessung der Oberfl=E4chenspannung - dyne - und einer automatisierten Nachstellung des Vorhandlungsgrades, deren Konstanthaltung sowie einer moderaten Qualit=E4tskontrolle und Produkt Zertifikation vorhanden.

Verst=E4ndlicherweise sind viele Unternehmen aus dem In- und insbesondere aus dem Ausland am Nanotechnologie Messverfahren, an einer Projektkooperation, Entwicklung, Prototypen Testung, weltweiten Herstellung, dem Vertrieb, an Lizenznehmungen oder vergleichbaren online touchless Messsystemen f=FCr diese spezielle Industrieanwendung interessiert.

Auf unseren Internetseiten sind eine Reihe von Spektralmessungen sowie Testresultate an BOPP und LDPE Folien zu finden.

Des Weiteren das technische Anforderungsprofil an die Verfahrensmessung, dem ODSTM-1 Messsystem und deren Prototyp.

Zum seinerzeitigen Stand der Technik f=FCr STATISCHE Oberfl=E4chen Spannungsmessungen sind auszugsweise Publikationen sowie Patentanmeldungen zusammengestellt. Hierbei sind die zeitlich relativ neuen Anmeldungen, welche ausnahmslos die statische Detektion und Bildung des Oberfl=E4chen Spannungswertes mit sequentiell aufgetragenen Fl=FCssigkeitstropfen und Bildaufnahmesystemen zum Gegenstand haben, von Bedeutung. Deren Publikationen und Patente sind in der Patentanmeldeschrift angegeben.

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Tiefgang Fachpublikationen der letzten Jahre, welche die ODSTM-1 Thematik direkt tangieren

Schichtbetrieb - Anforderungen an Schichtdickenmessung in der Mikro- und Nanotechnik : MessTec & Automation 3/2003, Prof. Peter Pokrovski

Optische Schichten mit ultrahydrophoben und streuarmen Eigenschaften : Photonik 4/2002, K.Reihs Surface Nanotechnologies GmbH, A.Duparre, Fraunhofer IOF

Anforderungen an Spektralmessgeraete f=FCr DWDM Systeme : Photonik

4/2002, Laurant Begin, Jim Nerschook, NetTest, Utica, NY, USA

Nanopor=F6se Polymerfilme als kosteng=FCnstige und zugleich hochwertige Antireflexbeschichtungen : Photonik 4/2002, Dr. Stefan Walheim, FZ- Karlsruhe, Institut f=FCr Nanotechnologie

JURCA Optoelektronik GmbH : Hochgenaue schnelle Schichtdickenbestimmung mit Wei=DFlichtinterferometrie, (Highly-accurate and quick layer-thickness measuring with white light interferometry) Sensor Magazine 1/2000

JURCA Optoelektronik GmbH - Dr. Gerd Jakob : Koaxiale interferometrische Schichtdickenmessung, Photonik 9/2000

Datron-Me=DFtechnik GmbH : Mikrowellensensor f=FCr Weg- und Geschwindigkeitsmessung, (Micro-wave sensor for distance and speed measuring) Me=DFtech 2/2000

Franz-Patat-Zentrum : Oberfl=E4chenbehandlung - Neues h=F6chstens im Labor, (Surface treatment - the latest, only in the laboratory) PKV- Magazine 3/2000

Institut f=FCr Kunststoffverarbeitung (Institute for Plastic Processing) Aachen IKV : Folienextrusion - Erg=E4nzendes Nebeneinander von Gie=DF- und Flachfolienverfahren, page 39, (Film extrusion - complementary use of casting and flat film techniques) PKV-Magazine 12/1999

In-Line Nahinfrarot-Spektroskopie bei der Kunststoffextrusion : publication at GIT-Labor-Fachzeitschrift 12/2000, Dipl.Phys. Thomas Rohe, Dipl.Ing. Sabine K=F6lle - FHG f=FCr Chemische Technologie ( ICT )

Smart Priming : publication at coating 12/2000 by Dr. Michael Bauer, Dr. Martin Kunz

Semiconductor Metrology: Will Photonics Measure Up ?Scatterometry, ellipsometry and optoacoustic techniques represent photonics in metrology toolbox of next-generation integrated circuits : publication at Photonics Spectra December 2000 by Alain C.Diebold - International Sematech senior fellow

Enercon : Reprint from Flexo May 1988 : Statistical Quality Control ( SQC ) Applied to Corona Treating, by David Markgraf Enercon : Corona Treatment - an overview, by David Markgraf, Enercon Industries Corp.

Light Scattering Measures Subangstrom Roughness - by Laurel M. Sheppard, Photonics Spectra 9/1999

Basis Weight, Sensor for Sheet and Film Products : by Honeywell- Measurex, Coating Magazine 11/1998

A comparison of 3D static light-scattering experiments with Monte Carlo simulations : Institute for Anorganic und Physical Chemistry of the Bremen University, IOP-Publishing Ltd. 32/1999

Was kann Oberfl=E4chenanalyse ? : Dr.J.Goschnick, coating 3/2000

Corona Technologie : Patentinformationen, Anwendungen, Mechanismen : Dr. Ralf Quack, coating 3/2000

WO 99/23479 : Reflectometer

WO 98/06999 : Method and Device for measuring the thickness of an insulating coating

US 5.590.560 : Apparatus for measuring viscosity or thickness, surface tension and surface dilational elasticity

EP 0.225.590 : Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Dicken- und/oder Orientierungs=E4nderungen innerhalb einer optisch aktiven Materialbahn (Method and device for the measurement of thickness changes and/or orientation changes within an optically active material web)

Coating magazine 2-2004, Coronabehandlung von Polymerfolien, Nachweismethoden, Einflussfaktoren und On line-Kontrolle, Dr.-Ing. Andreas Kiesow, Dr. J=FCrgen Meinhardt, Prof. Dr. Andreas Heilmann

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IPM - International Perforation Management High-tech engineering - China - Germany - Thailand

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bernado
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