Hallo DSE,
Ich möchte einen universellen automatischen Tester für Durchgang(/ Widerstand) und Kurzschluss(/Leckstrom) für verschiedene Kabel und
andere (passive) Baugruppen (bis zu ~100 pins) aufbauen. Bei den
Kabeln gibt es beliebige Pinbelegungen und Pinzahlen, bei den
Baugruppen sind es in der Regel nur Adapter ohne Bauteile, mit 1:1
Pinbelegung.
Allgemein formuliert soll es aus einer z.b. 128pin großen Matrix die Verbindung zwischen jedem Pin mit jedem anderen getestet werden.
Mein Lösungsansatz war, mittels analogem Demultiplexer (z.B. DG406) einen festen Spannungswert (oder auch Stromwert?) an Pin X zu legen, mit analogem Multiplexer (auch DG406), dann alle anderen Pins der Reihe nach auf den Mikrokontroller eigenen ADC zu leiten (über Shunt-R Strom und somit Widerstand messen). Das ganze jeweils für jeden pin. Bei 128 Pins also 16.000 AD Wandlungen. Der Mikrokontroller vergleicht die Widerstände zwischen Pin-X und Pin-Y mit einer z.B. in einem EEprom abgelegten Tabelle. Zu jedem Kabeltyp/Adapter würde es dann einen EEprom-Chip mit dieser Tabelle zum sockeln geben.
Der R(on) der Multiplexer liegt bei ~100 Ohm. Widerstände von z.B. ~0.5 Ohm bei Durchgang kann man so wohl nicht erfassen. Die Frage ist aber, wie weit kann man die Auflösungsgrenze bei der Verwendung dieser Analog-MUX runter drücken? z.B. könnte man den genauen R(on) eines Kanals bei einer anfänglichen Kalibration messen, und diesen Wert vom Ergebnis abziehen? So müsste man das Ergebnis so auf wenige Ohm genau bestimmen können, oder?
Für einen Durchgangstest denke ich ausreichend. Aber nur aus Interesse, welches wäre die Profi-Lösung, um viele Analogkanäle (>100) mit verschiedensten Signalstärken (Ströme von mA bis A, Spannungen von mV bis 50V) in Automated Test Equipment-Systemen möglichst genau und in-circuit zu messen? die Verwendung von Analogschaltern ist durch ihre R(on) Werte ja eher problematisch?
Gibt es sowas wie eine Best-Practice Lösung für solche Aufgaben? (Im ATE Umfeld gehört es wohl zum täglich Brot vermute ich)
Danke für eure Antworten,
mfg Moritz
Ich möchte einen universellen automatischen Tester für Durchgang(/ Widerstand) und Kurzschluss(/Leckstrom) für verschiedene Kabel und
Allgemein formuliert soll es aus einer z.b. 128pin großen Matrix die Verbindung zwischen jedem Pin mit jedem anderen getestet werden.
Mein Lösungsansatz war, mittels analogem Demultiplexer (z.B. DG406) einen festen Spannungswert (oder auch Stromwert?) an Pin X zu legen, mit analogem Multiplexer (auch DG406), dann alle anderen Pins der Reihe nach auf den Mikrokontroller eigenen ADC zu leiten (über Shunt-R Strom und somit Widerstand messen). Das ganze jeweils für jeden pin. Bei 128 Pins also 16.000 AD Wandlungen. Der Mikrokontroller vergleicht die Widerstände zwischen Pin-X und Pin-Y mit einer z.B. in einem EEprom abgelegten Tabelle. Zu jedem Kabeltyp/Adapter würde es dann einen EEprom-Chip mit dieser Tabelle zum sockeln geben.
Der R(on) der Multiplexer liegt bei ~100 Ohm. Widerstände von z.B. ~0.5 Ohm bei Durchgang kann man so wohl nicht erfassen. Die Frage ist aber, wie weit kann man die Auflösungsgrenze bei der Verwendung dieser Analog-MUX runter drücken? z.B. könnte man den genauen R(on) eines Kanals bei einer anfänglichen Kalibration messen, und diesen Wert vom Ergebnis abziehen? So müsste man das Ergebnis so auf wenige Ohm genau bestimmen können, oder?
Für einen Durchgangstest denke ich ausreichend. Aber nur aus Interesse, welches wäre die Profi-Lösung, um viele Analogkanäle (>100) mit verschiedensten Signalstärken (Ströme von mA bis A, Spannungen von mV bis 50V) in Automated Test Equipment-Systemen möglichst genau und in-circuit zu messen? die Verwendung von Analogschaltern ist durch ihre R(on) Werte ja eher problematisch?
Gibt es sowas wie eine Best-Practice Lösung für solche Aufgaben? (Im ATE Umfeld gehört es wohl zum täglich Brot vermute ich)
Danke für eure Antworten,
mfg Moritz