Wackelkontakte / schlechte Kontakte mit √úberga ngswiderstands-Messungen charakterisierbar?

Hallo DSIE,
Ich messe mit einem AVR uC Übergangswiderstände von Kabeln, um Defekte zu erkennen (die meißt an Lötstellen einzelner Adern auftreten), dazu
kann ich verschiedene Str√∂me (100uA - 10mA) durch eine Pin-Pin-Verbindung schicken, und den Spannungsabfall mit ADC √ľber mehrere Samples zu ermitteln.
Bei Wackelkontakten ist die Erkennung von Fehlerstellen aber bisher nur m√∂glich, wenn das DUT-Kabel w√§hrend der in einer Programmschleife von ~100ms ablaufenden Pr√ľfung aller Kabel-Adern hin und her bewegt wird, bis der Wackelkontakt zu gro√üen √úbergangswiderstand zeigt. Problem dabei ist auch, dass vermutlich durch triboelektrische Effekte die Messungen unsauber werden und eine Auswertung schwierig machen.
Es w√§re daher sehr komfortabel, wenn sich diese Fehlerstellen ohne Bewegungen am Kabel identifizieren lie√üen. Gibt es M√∂glichkeiten, vielleicht √ľber Nichtlinearit√§ten derartige schlechte Kontakte je nach Fehlerursache (z.b. kalte oder mechanisch beanspruchte L√∂tstellen, nur noch "aufliegende" Kontakte abgerissener Aderlitzen) zu charakterisieren?
Ich w√§re auch √ľber Hinweise zu passender Literatur, AN's oder sonstigen Quellen die Eigenschaften, Fehlverhalten und Charakterisierbarkeit von L√∂t- und Quetschverbindungen ausf√ľhrlicher Untersuchen sehr gl√ľcklich.
Ich danke euch f√ľr alle Hinweise/Tips!
Gruß, Moritz
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