Hallo DSIE,
Ich messe mit einem AVR uC Übergangswiderstände von Kabeln, um Defekte zu erkennen (die meißt an Lötstellen einzelner Adern auftreten), dazu kann ich verschiedene Ströme (100uA - 10mA) durch eine Pin-Pin-Verbindung schicken, und den Spannungsabfall mit ADC über mehrere Samples zu ermitteln.
Bei Wackelkontakten ist die Erkennung von Fehlerstellen aber bisher nur möglich, wenn das DUT-Kabel während der in einer Programmschleife von ~100ms ablaufenden Prüfung aller Kabel-Adern hin und her bewegt wird, bis der Wackelkontakt zu großen Übergangswiderstand zeigt. Problem dabei ist auch, dass vermutlich durch triboelektrische Effekte die Messungen unsauber werden und eine Auswertung schwierig machen.
Es wäre daher sehr komfortabel, wenn sich diese Fehlerstellen ohne Bewegungen am Kabel identifizieren ließen. Gibt es Möglichkeiten, vielleicht über Nichtlinearitäten derartige schlechte Kontakte je nach Fehlerursache (z.b. kalte oder mechanisch beanspruchte Lötstellen, nur noch "aufliegende" Kontakte abgerissener Aderlitzen) zu charakterisieren?
Ich wäre auch über Hinweise zu passender Literatur, AN's oder sonstigen Quellen die Eigenschaften, Fehlverhalten und Charakterisierbarkeit von Löt- und Quetschverbindungen ausführlicher Untersuchen sehr glücklich.
Ich danke euch für alle Hinweise/Tips!
Gruß, Moritz